天瑞X射線熒光光譜儀EDX3600性能特點：

三重安全保護模式。

相互獨立的基體效應(yīng)校正模型。

多變量非線性回歸程序。

任意多個可選擇的分析和識別模型。

高信噪比的電子線路單元。

全元素測試專用X熒光分析軟件。

與傳統(tǒng)儀器相比，新增加的抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的版圖。

采用SDD硅漂移探測器，分辨率低至139ev，更好的檢測鉑金中銥和金的含量。

提供多種準(zhǔn)直器，直徑小達(dá)0.2mm，輕松實現(xiàn)精小部位的精確測試。

精選全球組件。

真空腔。

在分析低含量的輕元素時，使用真空泵設(shè)備把空氣抽出，使內(nèi)部在真空狀態(tài)下對輕元素進行分析。

真空泵（選配）。

極限真空：6×10-2 帕轉(zhuǎn)速：1400 轉(zhuǎn)/分 抽率：1 升/秒 功率：0.25 千瓦。

天瑞X射線熒光光譜儀EDX3600技術(shù)指標(biāo)：

測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）

測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體

同時分析元素：30種元素同時分析

元素含量分析范圍：1ppm-99.99%

能量分辨率為：140±5ev

測量時間：60s-200s（可調(diào)）

制冷方式：電制冷，無需任何耗材

環(huán)境溫度：10℃-30℃

環(huán)境濕度：35%-70%

輸入電壓：AC 110V/220V

管壓：5kV-50kV

管流：50μA-1000μA

樣品腔尺寸：334×500×80mm

外觀尺寸：670×533×855 mm

重量：80kg

標(biāo)準(zhǔn)配置：

美國AmptekSDD探測器；

數(shù)字多道分析器；

放大電路、高低壓電源、X光管；

計算機、打印機、真空泵（選配）、穩(wěn)壓電源（選配）；

軟件：貴金屬分析軟件（標(biāo)配）、鍍層分析軟件（選配）、有害元素分析軟件（選配）。

應(yīng)用領(lǐng)域：

黃金、鉑金、銀等貴金屬的成分檢測?？蓮V泛應(yīng)用于珠寶首飾中輕元素的檢測。

分析元素：金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥、鈉、鎂、鋁、硅、磷、硫等。